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產品分類簡要描述:日本otsukael 電位/粒徑/分子量測量系統ELSZneoELSZ 系列中的最高型號,除了可以測量稀溶液到濃溶液中的 zeta 電位和粒徑外,還可以測量分子重量。作為一項新功能,多角度測量已被采用,以提高粒度分布的分辨率。它還可以進行顆粒濃度測量、微流變學測量和凝膠網絡結構分析。新型zeta電位平板電池單元具有新開發的高鹽涂層,可以在鹽水等高鹽環境下進行測量。我們還有一系列超微量細胞單元,
品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 國產 |
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應用領域 | 環保,化工,能源,電子,綜合 |
日本otsukael 電位/粒徑/分子量測量系統ELSZneo
日本otsukael 電位/粒徑/分子量測量系統ELSZneo的介紹
深圳九州工業品有限公司成立于2016年,坐落于年輕奮進的深圳市,是一家工業品綜合服務商。主要包括機電設備、電子產品、儀器儀表、工業器材的銷售及其它國內貿易、經營進出口等業務。聯合國際名品牌搭建工業品供應鏈,采用與 MRO分銷商結盟的方式,把零散采購訂單集中處理,流程簡化,提供一站式供應服務。在美國、德國、日本、韓國、中國臺灣建立采購中心,以流的專業國際采購團隊、技術顧問、銷售團隊為各種領域提供各類高品質的工業產品和優質的整合服務。通過與廠家建立快捷、有效的溝通,和眾多國外生產廠家建立了長久合作伙伴關系。
ELSZ 系列中的最高型號,除了可以測量稀溶液到濃溶液中的 zeta 電位和粒徑外,還可以測量分子重量。作為一項新功能,多角度測量已被采用,以提高粒度分布的分辨率。它還可以進行顆粒濃度測量、微流變學測量和凝膠網絡結構分析。
新型zeta電位平板電池單元具有新開發的高鹽涂層,可以在鹽水等高鹽環境下進行測量。我們還有一系列超微量細胞單元,可以測量 3 μL 的粒徑,擴大了生命科學領域的可能性。
?半導體及太陽能電池材料(硅、多晶硅、SiC等)
?硅外延、離子注入樣品
?化合物半導體(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)
3 到 8 英寸
厚度:200 –1200μm
彎曲度:+/-350μm
經度:350μm